2015 (3) 10

https://doi.org/10.15407/polymerj.37.03.287

Structural features of polymer nanocomposites based on polypropylene glycol and carbon nanotubes

E.A. Lysenkov1, V.V. Klepko2, Yu.V. Yakovlev2, S.I. Bohvan2, M.M. Minenko2, M.V. Ruhaylo2

1Mykolayiv National University named after V.O. Sukhomlinskiy

24, Nikolska Str., Mykolayiv, 54030, Ukraine

2Institute of Macromolecular Chemistry of NAS of Ukraine

48, Kharkivske highway, Kyiv, 02160, Ukraine

Polym. J., 2015, 37, no. 3: 287-292.

Section: Structure and properties.

Language: Ukrainian.

Abstract:

The structure of systems based on polypropylene and carbon nanotubes was studied by small-angle X-ray scattering and optical microscopy. Processes of structure formation of such systems can be described in terms of a two-level model with fractal aggregation. It is shown that fractals of the first structural level are surface fractals, and the second one – the mass fractals. It is found that the structure of carbon nanotubes compacted with increasing of its content in the system. .

Keywords: carbon nanotubes, small angle X-ray scattering, fractal structures, aggregation.

Література

1. Paul D.R., Robeson L.M. // Polymer. – 2008. – 49. – Р. 3187-3204.
2. Liff S.M., Kumar N., McKinley G.H. // Nat. Mater. – 2007. – 6. – 76-83.
3. Лисенков Е.А., Яковлев Ю.В., Клепко В.В. // Фізична інженерія поверхні. – 2014. – 12, №2. – С. 223-231.
4. Zhu J., Kim J., Peng H., Margrave J.L., Khabashes- ku V.N., Barrera E.V. // Nano Lett. – 2003. – 3. – 1107-1113.
5. Лисенков Е.А., Яковлев Ю.В., Клепко В.В. // Фізична інженерія поверхні. – 2014. – 12, №1. – С. 31-38.
6. Garcіa-Gutiеrrez M.C., Nogales A., Hernаndez J.J., Rueda D.R., Ezquerra T.A. // Opt. Pura Apl. – 2007. – 40, № 2. – P. 195-200.
7. Мележик А.В., Семенцов Ю.И., Янченко В.В. // Журн. прикл. химии. – 2005. – 78, № 6. – С. 938-944.
8. Липатов Ю.С., Шилов В.В., Гомза Ю.П., Круг- ляк Н.Е. Рентгенографические методы изучения полимерных систем. – Киев: Наук. думка, 1982. – 296 с.
9. Vonk C.G. FFSAXS’s Program for the Processing of Small-Angle X-ray Scattering Data. – Geleen: DSM, 1974. – 83 p.
10. Cameron N., Cowie J.M.G., Ferguson R., Gomez Ribelles J.L., Estelles J. // Europ. Polym. J. – 2002. – 38. – Р. 597-605.
11. Beaucage G. // J. Appl. Crystallogr. – 1995. – 28. – Р. 717-728.
12. Шпак А.П., Шилов В.В., Шилова О.А., Куницкий Ю.А. Диагностика наночастиц. Многоуровневые фрактальные наноструктуры (ч. II.). – Киев: Академпериодика, 2004. – 112 с.
13. Schaefer D.W., Zhao J., Janis M. Brown J. M., Anderson D.P., Tomlin D.W. // Chem. Phys. Lett. – 2003. – 375. – P. 369-375.
14. Sen D., Dasgupta K., Bahadur J., Mazumder S., Sathiyamoorthy D. // Pramana J. Phys. – 2008. – 71, № 5. – P. 971-977.
15. Martin J.E., Hurd A.J. // J. Appl. Cryst. – 1987. – 20. – P. 61-78.
16. Гинье А. Рентгенография кристаллов. Теория и практика. – М.: Физматгиз, 1961. – 604 с.
17. Mudry S., Kulyk Yu. // Phys. Chem. Solid State. – 2010. – 11, № 1. – P. 252-254.
18. Hough L.A., Islam M.F., Hammouda B., Yodh A.G., Heiney P.A. // Nano Letters. – 2006. – 6, № 2. – P. 313-317.
19. Bulavin L.A., Savenko V.S., Lebovka N.I., Kuklin A.I., Soloviov D.V.,
Ivankov O.I. // Ядерна фізика та енергетика. – 2013. – 14, № 4. – С. 372-376.
20. Porod G. General theory // Small-angle X-ray scattering / Ed. By O. Glatter, O. Kratky. – London: Acad. Press. – 1982. – P. 17-51.